封装测试吧
关注: 37 贴子: 47

  • 目录:
  • 其他
  • 0
    TR6836S SII DD64*1+DPS*2+DUT*1 # IC测试机#测试机#芯片 #半导体##芯片#
  • 0
    封装元器件X-RAY检测.
  • 0
    封装测试电子元件损伤了怎么检测? 电子元件、电热丝、电热管、电池、X-RAY检测、新能源电池组测试!
    检测设备 12-20
  • 0
    10月过完 一年已过大半,8u们今年的情况如何啊?封装厂订单如何,车间的设备稼动率多少呢
  • 0
    芯片封装是将集成电路芯片与外部环境隔离并进行保护的过程,常用的芯片封装方式有以下几种: 1. DIP封装(DualIn-line Package):这是最早也是最常见的一种封装形式,芯片引脚以两行排列在芯片的两侧,适用于手工焊接或插座安装。 2. SOP封装(SmallOutline Package):相较于DIP封装,SOP封装减小了体积和间距,具有更高的密度和更好的热传导性能,适用于自动化焊接。 3. QFP封装(Quad FlatPackage):该封装形式的芯片引脚沿四边均匀排列,具有较高的引脚
  • 0
    半导体芯片是如何封装的?这是一个很好的问题。半导体芯片通常需要被封装起来才能使用。封装工艺的目标是将裸露的芯片保护起来,同时连接它们到外部引脚,以便于在电路板等设备中使用。 半导体芯片的封装工艺流程通常包括以下几个步骤: 1. 制备基底:首先,要选择一种适当的基底材料,可以是塑料、陶瓷或金属。然后进行切割和打孔等加工处理,以形成基底上的引脚。 2. 连接芯片:将裸露的芯片粘贴到基底上,并用导线将其连接到引脚上
  • 0
    一:封装是什么?芯片封装,就是指把硅片上的电路管脚,用导线接引到外部接头处,以便与其它器件连接,封装形式是指安装半导体集成电路芯片用的外壳。它不仅起着安装、固定、密封、保护芯片及增强电热性能等方面的作用,而且还通过芯片上的接点用导线连接到封装外壳的引脚上,这些引脚又通过印刷电路板上的导线与其他器件相连接,从而实现内部芯片与外部电路的连接。因为芯片必须与外界隔离,以防止空气中的杂质对芯片电路的腐蚀而造成
  • 4
    前言:半导体封装是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到独立芯片的过程。 一般来说,半导体封装及测试是半导体制造流程中极其重要的收尾工作。半导体封装是利用薄膜细微加工等技术将芯片在基板上布局、固定及连接,并用可塑性绝缘介质灌封后形成电子产品的过程,目的是保护芯片免受损伤,保证芯片的散热性能,以及实现电能和电信号的传输,确保系统正常工作;而半导体测试主要是对芯片外观、性能等进行检测,目的是
  • 3
    之前我们跟随金誉半导体有了解过,CP测试和FT测试是芯片测试中的两个模块。 CP是Chip Probe的缩写,指的是芯片在wafer的阶段,就通过探针卡扎到芯片管脚上对芯片进行性能及功能测试,有时候这道工序也被称作WS(Wafer Sort)。 FT是Final Test的缩写,指的是芯片在封装完成以后进行的最终测试,只有通过测试的芯片才会被出货。 从工序角度上看,似乎非常容易区分cp测试和ft测试,没有必要再做区分,而且有人会问,封装前已经做过测试把坏的芯片筛选
  • 0
    之前金誉半导体有科普过由于芯片封装结构上的不同,从而产生了非常多的封装类型,比如说QFN方形扁平无引脚封装、BGA 球栅阵列封装、SOP 小外形外壳装、 PBGA 塑料焊球阵列封装、SSOP 窄间距小外型塑封、DIP双列直插式封装等等。 今天我们要来了解的是在市场上非常受欢迎的QFN方形扁平无引脚封装,来看下区别于其他类型它有何特点。 按照电子产品终端厂对芯片的组装上板方式,其芯片的封装形式可以分为贴片式封装和通孔式封装。而QFN封装就属于
  • 1
     UV固化油墨、胶水或涂料涂层不易太厚的原因之一,是UV光穿透能力不太强,过于厚的涂层有可能使底部的油墨、胶水或涂料固化不充分,从而导致涂层硬度不足、附着力不强、电气绝缘及其它理化性能不佳的后果。因此,采用UV固化油墨、胶水或涂料技术,既要懂得选择材料,又要懂得选择设备和运行参数,只有使二者实现了最佳的配合,才能获得最佳的效果。   问:那么气泡产生的原因呢?   答:UV涂料在厚型涂覆和高温条件下实施UV固化时
  • 0
    崔阿路 2021-10
    磨砂/镜面mold专用,适用设备towa/yamada,作为AGC膜的替代, 日氟荣高分子材料(上海)有限公司niflon.cn,提供定制生产,顾经理17717579329同微信
    崔阿路 10-8
  • 0
    点胶和底部填充的空洞问题,对BGA及类似器件可靠性的危害很大,尤其是对于尺寸较大的BGA和CSP或WLP器件。为消除空洞,我们须清楚它的来源,虽然产生空洞的原因较为复杂,而空洞的位置和形状给提供了很多线索,可以帮助我们使用有效的方法去消除它。那么,产生空洞的原因主要有哪些,如何防范与检测呢?下面我将做简略的阐述。 产生空洞的因素与防范对策: 1.胶水中混入了空气、其他溶剂或水份,以及PCB或器件受潮等原因,在烘烤过程中产生
  • 0
      环氧树脂   优点:环氧树脂灌封胶多为硬性,也有少部分改性环氧树脂稍软。该材质的最大优点在于对材质的粘接力较好以及较好的绝缘性,固化物耐酸碱性能好。环氧树脂一般耐温100℃。材质可作为透明性材料,具有较好的透光性。价格相对便宜。   缺点:抗冷热变化能力弱,受到冷热冲击后容易产生裂缝,导致水汽从裂缝中渗人到电子元器件内,防潮能力差;固化后胶体硬度较高且较脆,较高的机械应力易拉伤电子元器件;环氧树脂一经
  • 0
    电子灌封胶在未固化前属于液体状,具有流动性,胶液黏度根据产品的材质、性能、生产工艺的不同而有所区别。在完全固化后才能实现它的使用价值,固化后可以起到防水防潮、防尘、绝缘、导热、保密、防腐蚀、耐温、防震的作用。目前市场上电子灌封胶种类非常多,从材质类型来分,目前使用最多最常见的主要为3种,即环氧树脂灌封胶、有机硅灌封胶、聚氨酯灌封胶。灌封胶的选用将直接影响电子产品的运行精密程度及时效性,在众多灌封胶
  • 2
    亲爱的各位吧友:欢迎来到封装测试

  • 发贴红色标题
  • 显示红名
  • 签到六倍经验

赠送补签卡1张,获得[经验书购买权]

扫二维码下载贴吧客户端

下载贴吧APP
看高清直播、视频!

本吧信息 查看详情>>

会员: 会员

目录: 其他